无损检测是利用声、光、磁和电等特性，在不损害或不影响被检测对象使用性能的前提下，检测零部件是否存在缺陷或不均匀性，给出缺陷的大小、位置、性能和数量等信息，进而判断被检对象所处技术状态的所有技术手段的总称。
利用射线穿透物质时的衰减特性来探测被检物中的不连续性（缺陷）并记录与实现其图像的方法。射线检测按照射线（或辐射）源不同可分为X射线检测、γ射线检测、中子射线检测、质子射线检测和电子辐射检测等方法。
利用人感觉不到的高频声波（＞20000Hz）在被检物中的传播、反射、衰减等特性判断测定被检物缺陷的方法。
被检物在磁场中被磁化后，缺陷部位产生漏磁磁场，在被检物表面撒上磁粉，缺陷处有磁粉附着从而显示出缺陷。磁粉检测只适用于铁磁性材料。铁磁性材料上非磁性涂层厚度小于50um时，对磁粉检测灵敏度影响很小。缺陷长度方向与磁场方向相垂直是磁粉检测的重要条件。
施加于被检物的渗透剂靠毛细作用渗入被检物表面缺陷内，清洗被检物后，用显像剂将残留在缺陷中的渗透剂吸出，从而以荧光或着色图像显示缺陷的形状和位置。渗透液对缺陷的渗透能力与渗透液表面张力、渗透液对固体的润湿作用、缺陷形状和大小以及渗透液粘度等有关。
射线检测：GB/T 3323，JB/T 4730.2，JB/T 6440，EN 1435，ASTM E 446，ASTM E186，ISO 5817
超声波检测：GB/T2970，GB/T6402，GB/T7233，GB/T11345，EN 12680-1，ASTM A388/A388M，JB/T 4730.3
磁粉检测：GB/T15822，JB/T6061，BS EN1290，JB/T 4730.4
